蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司

1號館｜A056

前沿產(chǎn)品

01 EDX8800M MAX

作為一款高性能的立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。

產(chǎn)品特點

1、配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率。

2、能同時進行元素和氧化物成分分析。

3、特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性。可同時選配氦氣系統(tǒng)，實現(xiàn)液體和粉末樣品的直接測試。

4、八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差。

5、高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位。

6、可搭載樣品自旋平臺，增加樣品檢測面積，提高測試準確度和精密度。

02 EDX9000B Plus

EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。

產(chǎn)品特點

1、小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析。

2、可同時分析40種元素。

3、采用多準直器多濾光片和扣背景專利技術(shù)。

4、 Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率。

5、超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計，雙真空抽速機構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)。

6、標配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作。

7、專利薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限。

03 EDX9000B

EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：鐵礦、銅礦、鋁土礦、貴金屬礦產(chǎn)、稀土礦、原料、磷酸鹽、煤炭、鉛鋅礦、錳礦、鎳礦、石灰石、粘土、石膏、玻璃、土壤、水泥、耐火材料等。

產(chǎn)品特點

1、無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果。

2、強大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體效應(yīng)的影響。

3、50 kV光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率;，能同時進行元素和氧化物成分分析。

4、多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控，讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。

04 Compass200

Compass 200能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀實現(xiàn)了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠?qū)崟r現(xiàn)場對廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進行監(jiān)測，從而進行控制排放和污染治理。

產(chǎn)品特點

1、便攜，堅固，緊湊的設(shè)計，輕松實現(xiàn)現(xiàn)場高精度樣品無損檢測

2、友好的軟件界面和一鍵式啟動測試

3、常規(guī)分析培訓(xùn)只需幾分鐘

4、大型8英寸觸摸屏上顯示的直觀界面

5、可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現(xiàn)長時間工作。

05 EDX8000T

鍍層測厚儀 EDX8000T 是將 X 射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次 X 射線的 強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的 X 射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時測量時間短，一般在30秒內(nèi)完成。

產(chǎn)品特點

1、全新的下照式一體化設(shè)計，

2、測試快速，無需樣品制備

3、可通過內(nèi)置高清 CCD 攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸， 污染或破壞被測物。軟件配備距離補正算法，實現(xiàn)了對不規(guī)則樣品（如凹凸面，螺紋，曲面 等）的異型件的精準測試

4、備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品

5、可覆蓋元素周期表 Mg鎂到 U 鈾

6、Si-pin 檢測器，具有高計數(shù)范圍和出色的能量分辨率

7、自動切換準直器和濾光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm）。

公司簡介

蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司專注于XRF光譜儀及配套設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用。基于多年的技術(shù)積累和沉淀，英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)軟件研發(fā)和硬件制造技術(shù)，不僅能提供整套光譜儀定制服務(wù)，而且能夠提供全方位專業(yè)而系統(tǒng)的元素成分分析及鍍層測厚的解決方案，以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。